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    Titel:

    Reconsideration of crack deflection at planar interfaces in layered systems

    Beteiligte:

    Lee, W. (Autor:in) / Yoo, Y. H. (Autor:in) / Shin, H. (Autor:in)

    Erschienen in:

    COMPOSITES SCIENCE AND TECHNOLOGY ; 64 ; 2415-2423

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2004

    Format / Umfang:

    9 pages

    ISSN:

    0266-3538

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.118

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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