SEM and HRTEM study of porous silicon-relationship between fabrication, morphology and optical properties: Fid-Bau Portal

SEM and HRTEM study of porous silicon-relationship between fabrication, morphology and optical properties

Dian, J. / Macek, A. / Niznansky, D. / Nemec, I. / Vrkoslav, V. / Chvojka, T. / Jelinek, I.

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Titel:

SEM and HRTEM study of porous silicon-relationship between fabrication, morphology and optical properties

Beteiligte:

Dian, J. (Autor:in) / Macek, A. (Autor:in) / Niznansky, D. (Autor:in) / Nemec, I. (Autor:in) / Vrkoslav, V. (Autor:in) / Chvojka, T. (Autor:in) / Jelinek, I. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 238 ; 169-174

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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