Nanostructure of thin silicon films by combining HRTEM, XRD and Raman spectroscopy measurements and the implication to the optical properties: Fid-Bau Portal

Nanostructure of thin silicon films by combining HRTEM, XRD and Raman spectroscopy measurements and the implication to the optical properties

Gajovic, A. / Gracin, D. / Djerdj, I. / Tomasic, N. / Juraic, K. / Su, D. S.

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Titel:

Nanostructure of thin silicon films by combining HRTEM, XRD and Raman spectroscopy measurements and the implication to the optical properties

Beteiligte:

Gajovic, A. (Autor:in) / Gracin, D. (Autor:in) / Djerdj, I. (Autor:in) / Tomasic, N. (Autor:in) / Juraic, K. (Autor:in) / Su, D. S. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 254 ; 2748-2754

Erscheinungsdatum:

01.01.2008

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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