MOSFET drain current reduction under Fowler-Nordheim and channel hot carrier injection before gate oxide breakdown: Fid-Bau Portal

MOSFET drain current reduction under Fowler-Nordheim and channel hot carrier injection before gate oxide breakdown

Gerardin, S. / Cester, A. / Paccagnella, A. / Ghidini, G.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

MOSFET drain current reduction under Fowler-Nordheim and channel hot carrier injection before gate oxide breakdown

Gerardin, S. / Cester, A. / Paccagnella, A. / Ghidini, G.

MOSFET drain current reduction under Fowler-Nordheim and channel hot carrier injection before gate oxide breakdown

Gerardin, S. / Cester, A. / Paccagnella, A. / Ghidini, G.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

MOSFET drain current reduction under Fowler-Nordheim and channel hot carrier injection before gate oxide breakdown

Beteiligte:

Gerardin, S. (Autor:in) / Cester, A. (Autor:in) / Paccagnella, A. (Autor:in) / Ghidini, G. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING ; 7 ; 175-180

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

1369-8001

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.38152

Sung, Janmye | TIBKAT | 1988

Characterization of program and erase properties using Fowler-Nordheim tunneling in the 30nm silicon-oxide-nitride-oxide-silicon transistor

Ham, H. / Heo, J. / Kim, C. et al. | British Library Online Contents | 2005

Values of Fowler-Nordheim field emission functions -- V(y), t(y), and s(y)

Miller, H.C. | Engineering Index Backfile | 1966

Selective oxidation fin channel MOSFET for source/drain series resistance reduction

Young-Kyun Cho, / Tae Moon Roh, / Jongdae Kim, | IEEE | 2006

27952 - Nordheim

Forschungszentrum Deutscher Sprachatlas | DataCite | 1876

Freier Zugriff

Nach oben