Interface-Related In-Plane Optical Anisotropy of Quantum Wells Studied by Reflectance-Difference Spectroscopy: Fid-Bau Portal

Interface-Related In-Plane Optical Anisotropy of Quantum Wells Studied by Reflectance-Difference Spectroscopy

Chen, Y. H. / Ye, X. L. / Xu, B. / Zeng, Y. P. / Wang, Z. G.

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Titel:

Interface-Related In-Plane Optical Anisotropy of Quantum Wells Studied by Reflectance-Difference Spectroscopy

Beteiligte:

Chen, Y. H. (Autor:in) / Ye, X. L. (Autor:in) / Xu, B. (Autor:in) / Zeng, Y. P. (Autor:in) / Wang, Z. G. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 475/479 ; 1777-1782

Erscheinungsdatum:

01.01.2005

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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