Detection of indium segregation effects in InGaAs/GaAs quantum wells using reflectance-difference spectrometry: Fid-Bau Portal

Detection of indium segregation effects in InGaAs/GaAs quantum wells using reflectance-difference spectrometry

Ye, X. / Chen, Y. H. / Xu, B. / Wang, Z. G.

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Titel:

Detection of indium segregation effects in InGaAs/GaAs quantum wells using reflectance-difference spectrometry

Beteiligte:

Ye, X. (Autor:in) / Chen, Y. H. (Autor:in) / Xu, B. (Autor:in) / Wang, Z. G. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B -LAUSANNE- ; 91-92 ; 62 - 65

Erscheinungsdatum:

01.01.2002

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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