Microdiffraction Study of Polycrystalline Copper during Uniaxial Tension Deformation Using a Synchrotron X-Ray Source: Fid-Bau Portal

Microdiffraction Study of Polycrystalline Copper during Uniaxial Tension Deformation Using a Synchrotron X-Ray Source

Joo, H. D. / Kim, J. S. / Bark, C. W. / Kim, J. Y. / Koo, Y. M. / Tamura, N.

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Titel:

Microdiffraction Study of Polycrystalline Copper during Uniaxial Tension Deformation Using a Synchrotron X-Ray Source

Beteiligte:

Joo, H. D. (Autor:in) / Kim, J. S. (Autor:in) / Bark, C. W. (Autor:in) / Kim, J. Y. (Autor:in) / Koo, Y. M. (Autor:in) / Tamura, N. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 475/479 ; 4149-4152

Erscheinungsdatum:

01.01.2005

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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