Quantitative characterization of the mesoscopic surface roughness in a growing island film: Fid-Bau Portal

Quantitative characterization of the mesoscopic surface roughness in a growing island film

Trofimov, V. I. / Trofimov, I. V. / Kim, J. I.

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Titel:

Quantitative characterization of the mesoscopic surface roughness in a growing island film

Beteiligte:

Trofimov, V. I. (Autor:in) / Trofimov, I. V. (Autor:in) / Kim, J. I. (Autor:in)

Erschienen in:

COMPUTATIONAL MATERIALS SCIENCE ; 33 ; 369-374

Erscheinungsdatum:

01.01.2005

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0927-0256

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.1 / 510

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