Thickness dependence of optical properties of VO2 thin films epitaxially grown on sapphire (0001): Fid-Bau Portal

Thickness dependence of optical properties of VO2 thin films epitaxially grown on sapphire (0001)

Xu, G. / Jin, P. / Tazawa, M. / Yoshimura, K.

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Titel:

Thickness dependence of optical properties of VO2 thin films epitaxially grown on sapphire (0001)

Beteiligte:

Xu, G. (Autor:in) / Jin, P. (Autor:in) / Tazawa, M. (Autor:in) / Yoshimura, K. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 244 ; 449-452

Erscheinungsdatum:

01.01.2005

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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