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Studying atomic-resolution by X-ray fluorescence holography

Gao, H. / Chen, J. / Xie, H. / Zhu, H. / Li, R. / Xu, Z.

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Titel:

Studying atomic-resolution by X-ray fluorescence holography

Beteiligte:

Gao, H. (Autor:in) / Chen, J. (Autor:in) / Xie, H. (Autor:in) / Zhu, H. (Autor:in) / Li, R. (Autor:in) / Xu, Z. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 248 ; 71-74

Erscheinungsdatum:

01.01.2005

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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