In situ transmission electron microscopy study of the crystallization of fast-growth doped Sb~xTe alloy films: Fid-Bau Portal

In situ transmission electron microscopy study of the crystallization of fast-growth doped Sb~xTe alloy films

Kooi, B. J. / Pandian, R. / De Hosson, J. T. M. / Pauza, A.

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Titel:

In situ transmission electron microscopy study of the crystallization of fast-growth doped Sb~xTe alloy films

Beteiligte:

Kooi, B. J. (Autor:in) / Pandian, R. (Autor:in) / De Hosson, J. T. M. (Autor:in) / Pauza, A. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH -PITTSBURGH THEN WARRENDALE- ; 20 ; 1825-1835

Erscheinungsdatum:

01.01.2005

Format / Umfang:

11 pages

ISSN:

0884-2914

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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