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Transmission electron microscopy studies of the bonded SiC-SiC interface

Yushin, G. N. / Kvit, A. V. / Sitar, Z.

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Titel:

Transmission electron microscopy studies of the bonded SiC-SiC interface

Beteiligte:

Yushin, G. N. (Autor:in) / Kvit, A. V. (Autor:in) / Sitar, Z. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE ; 40 ; 4369-4371

Erscheinungsdatum:

01.01.2005

Format / Umfang:

3 pages

ISSN:

0022-2461

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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