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    Dokumentinformationen
    Titel:

    Surface characterisation and interface studies of high-k materials by XPS and TOF-SIMS

    Beteiligte:

    Besmehn, A. (Autor:in) / Scholl, A. (Autor:in) / Rije, E. (Autor:in) / Breuer, U. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 252 ; 172-176

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2005

    Format / Umfang:

    5 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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