Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik
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Characterization of ultra-low-load (muN) nanoindents in GaAs(100) using a cube corner tip
Characterization of ultra-low-load (muN) nanoindents in GaAs(100) using a cube corner tip
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Taylor, C. R. (Autor:in) / Malshe, A. P. (Autor:in) / Salamo, G. (Autor:in) / Prince, R. N. (Autor:in) / Riester, L. (Autor:in) / Cho, S. O. (Autor:in)
SMART MATERIALS AND STRUCTURES ; 14 ; 963-970
01.01.2005
8 pages
Aufsatz (Zeitschrift)
Englisch
DDC:
530
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