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Microbridge testing of thin films

Zhang, T. Y. / Wang, X. / Huang, B.

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Titel:

Microbridge testing of thin films

Beteiligte:

Zhang, T. Y. (Autor:in) / Wang, X. (Autor:in) / Huang, B. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING A ; 409 ; 329-339

Erscheinungsdatum:

01.01.2005

Format / Umfang:

11 pages

ISSN:

0921-5093

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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