Structural characterisation of self-implanted Si after HT-HP treatment: Fid-Bau Portal

Structural characterisation of self-implanted Si after HT-HP treatment

Rzodkiewicz, W. / Kudla, A. / Misiuk, A. / Surma, B. / Bak-Misiuk, J.

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Titel:

Structural characterisation of self-implanted Si after HT-HP treatment

Beteiligte:

Rzodkiewicz, W. (Autor:in) / Kudla, A. (Autor:in) / Misiuk, A. (Autor:in) / Surma, B. (Autor:in) / Bak-Misiuk, J. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B -LAUSANNE- ; 124-125 ; 170-173

Erscheinungsdatum:

01.01.2005

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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