Investigation of traps in AlGaN/GaN HEMTs by current transient spectroscopy: Fid-Bau Portal

Investigation of traps in AlGaN/GaN HEMTs by current transient spectroscopy

Gassoumi, M. / Bluet, J. M. / Chekir, F. / Dermoul, I. / Maaref, H. / Guillot, G. / Minko, A. / Hoel, V. / Gaquière, C.

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Titel:

Investigation of traps in AlGaN/GaN HEMTs by current transient spectroscopy

Beteiligte:

Gassoumi, M. (Autor:in) / Bluet, J. M. (Autor:in) / Chekir, F. (Autor:in) / Dermoul, I. (Autor:in) / Maaref, H. (Autor:in) / Guillot, G. (Autor:in) / Minko, A. (Autor:in) / Hoel, V. (Autor:in) / Gaquière, C. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -AMSTERDAM THEN LAUSANNE- C ; 26 ; 383-386

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0928-4931

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.1 / 660

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