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    Titel:

    Fatigue fracture of embedded copper conductors in multifunctional composite structures

    Beteiligte:

    Kim, H. (Autor:in) / Park, M. (Autor:in) / Hsieh, K. (Autor:in)

    Erschienen in:

    COMPOSITES SCIENCE AND TECHNOLOGY ; 66 ; 1010-1021

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2006

    Format / Umfang:

    12 pages

    ISSN:

    0266-3538

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.118

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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