Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik
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Metallic thin film depth measurements by X-ray microanalysis
Metallic thin film depth measurements by X-ray microanalysis
Metallic thin film depth measurements by X-ray microanalysis
Ng, F. L. (Autor:in) / Wei, J. (Autor:in) / Lai, F. K. (Autor:in) / Goh, K. L. (Autor:in)
APPLIED SURFACE SCIENCE ; 252 ; 3972-3976
01.01.2006
5 pages
Aufsatz (Zeitschrift)
Englisch
DDC:
621.35
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