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Observation of oxygen contamination at ZnSe/GaAs interfaces using SIMS

Gard, F. S. / Riley, J. D. / Prince, K.

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Titel:

Observation of oxygen contamination at ZnSe/GaAs interfaces using SIMS

Beteiligte:

Gard, F. S. (Autor:in) / Riley, J. D. (Autor:in) / Prince, K. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 252 ; 4013-4015

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

3 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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