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Thermal Control of High Reliability Electronics

Garner, S. / Park, C. / Anderson, W. / Zuo, J.

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Titel:

Thermal Control of High Reliability Electronics

Beteiligte:

Garner, S. (Autor:in) / Park, C. (Autor:in) / Anderson, W. (Autor:in) / Zuo, J. (Autor:in)

Erschienen in:

ADVANCING MICROELECTRONICS ; 33 ; 8-10

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

3 pages

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.381

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