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Reliability Evaluation System of Electronics Components

Lee, S. W. / Han, S. W. / Song, J. Y. / Kim, W. D. / Lee, H. K.

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Titel:

Reliability Evaluation System of Electronics Components

Beteiligte:

Lee, S. W. (Autor:in) / Han, S. W. (Autor:in) / Song, J. Y. (Autor:in) / Kim, W. D. (Autor:in) / Lee, H. K. (Autor:in) / Lee, S.-B. / Kim, Y.-J.

Erschienen in:

Experimental Mechanics in Nano and Biotechnology ; 569-572

KEY ENGINEERING MATERIALS ; 326/328

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

1013-9826

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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