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    Dokumentinformationen
    Titel:

    Reliability during Thermal Shock Testing of NiCr Films on Mn-Ni-Co Oxide Substrates

    Beteiligte:

    Jeon, M. S. (Autor:in) / Song, J. K. (Autor:in) / Lee, E. J. (Autor:in) / Lee, H. S. (Autor:in) / No, T. H. (Autor:in) / Kim, D. H. (Autor:in) / Park, I. G. (Autor:in)

    Erschienen in:

    KEY ENGINEERING MATERIALS ; 317/318 ; 553-556

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2006

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    1013-9826

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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