Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Caesium/xenon dual beam depth profiling: Velocity of the sputtered atom and ionization probability

    Neue Suche nach: Brison, J.
    Neue Suche nach: Douhard, B.
    Neue Suche nach: Houssiau, L.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Caesium/xenon dual beam depth profiling: Velocity of the sputtered atom and ionization probability

    Neue Suche nach: Brison, J.
    Neue Suche nach: Douhard, B.
    Neue Suche nach: Houssiau, L.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Caesium/xenon dual beam depth profiling: Velocity of the sputtered atom and ionization probability

    Neue Suche nach: Brison, J.
    Neue Suche nach: Douhard, B.
    Neue Suche nach: Houssiau, L.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Caesium/xenon dual beam depth profiling: Velocity of the sputtered atom and ionization probability

    Beteiligte:

    Brison, J. (Autor:in) / Douhard, B. (Autor:in) / Houssiau, L. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 252 ; 6440-6443

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2006

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Cesium/xenon dual beam depth profiling with TOF-SIMS: measurement and modeling of M^+, MCs^+, and M~2Cs~2^+ yields

    Brison, J. / Conard, T. / Vandervorst, W. et al. | British Library Online Contents | 2004

    Ionization probability of sputtered cluster anions: Cn- and Sin-

    Gnaser, H. | British Library Online Contents | 2003

    Ultrasonic velocity in caesium borate glasses

    Kodama, M. | British Library Online Contents | 1992

    Anomalous behaviour of ultrasonic velocity in caesium

    Kodama, M. / Hirashima, T. / Matsushita, T. | British Library Online Contents | 1993

    Ionization probability of atoms and molecules sputtered from a cesium covered silver surface

    Meyer, S. / Staudt, C. / Wucher, A. | British Library Online Contents | 2003

    Nach oben