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    Dokumentinformationen
    Titel:

    Characterisation of electrospun nanowebs with static secondary ion mass spectrometry (S-SIMS)

    Beteiligte:

    Van Royen, P. (Autor:in) / dos Santos, A. M. (Autor:in) / Schacht, E. (Autor:in) / Ruys, L. (Autor:in) / Van Vaeck, L. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 252 ; 6992-6995

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2006

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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