Shave-off depth profiling: Depth profiling with an absolute depth scale: Fid-Bau Portal

Shave-off depth profiling: Depth profiling with an absolute depth scale

Nojima, M. / Maekawa, A. / Yamamoto, T. / Tomiyasu, B. / Sakamoto, T. / Owari, M. / Nihei, Y.

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Titel:

Shave-off depth profiling: Depth profiling with an absolute depth scale

Beteiligte:

Nojima, M. (Autor:in) / Maekawa, A. (Autor:in) / Yamamoto, T. (Autor:in) / Tomiyasu, B. (Autor:in) / Sakamoto, T. (Autor:in) / Owari, M. (Autor:in) / Nihei, Y. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 252 ; 7293-7296

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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