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    Titel:

    Recent advances in high-resolution X-ray diffractometry applied to nanostructured oxide thin films: The case of yttria stabilized zirconia epitaxially grown on sapphire

    Beteiligte:

    Boulle, A. (Autor:in) / Guinebretiere, R. (Autor:in) / Masson, O. (Autor:in) / Bachelet, R. (Autor:in) / Conchon, F. (Autor:in) / Dauger, A. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 253 ; 95-105

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2006

    Format / Umfang:

    11 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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