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    Titel:

    Structural characterization of InxGa1-xAs/Inp layers under different stresses

    Beteiligte:

    Bak-Misiuk, J. (Autor:in) / Orlinska, K. (Autor:in) / Kaniewski, J. (Autor:in) / Shalimov, A. (Autor:in) / Lusakowska, E. (Autor:in) / Misiuk, A. (Autor:in) / Muszalski, J. (Autor:in) / Wierzchowski, W. (Autor:in) / Wieteska, K. (Autor:in) / Graeff, W. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 253 ; 261-265

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2006

    Format / Umfang:

    5 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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