Using time-of-flight secondary ion mass spectrometry and multivariate statistical analysis to detect and image octabenzyl-polyhedral oligomeric silsesquioxane in polycarbonate: Fid-Bau Portal

Using time-of-flight secondary ion mass spectrometry and multivariate statistical analysis to detect and image octabenzyl-polyhedral oligomeric silsesquioxane in polycarbonate

Smentkowski, V. S. / Duong, H. M. / Tamaki, R. / Keenan, M. R. / Ohlhausen, J. A. / Kotula, P. G.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Using time-of-flight secondary ion mass spectrometry and multivariate statistical analysis to detect and image octabenzyl-polyhedral oligomeric silsesquioxane in polycarbonate

Smentkowski, V. S. / Duong, H. M. / Tamaki, R. / Keenan, M. R. / Ohlhausen, J. A. / Kotula, P. G.

Using time-of-flight secondary ion mass spectrometry and multivariate statistical analysis to detect and image octabenzyl-polyhedral oligomeric silsesquioxane in polycarbonate

Smentkowski, V. S. / Duong, H. M. / Tamaki, R. / Keenan, M. R. / Ohlhausen, J. A. / Kotula, P. G.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

Using time-of-flight secondary ion mass spectrometry and multivariate statistical analysis to detect and image octabenzyl-polyhedral oligomeric silsesquioxane in polycarbonate

Beteiligte:

Smentkowski, V. S. (Autor:in) / Duong, H. M. (Autor:in) / Tamaki, R. (Autor:in) / Keenan, M. R. (Autor:in) / Ohlhausen, J. A. (Autor:in) / Kotula, P. G. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 253 ; 1015-1022

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

8 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)