Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik
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X-ray multiple diffraction in the characterization of TiNO and TiO2 thin films grown on Si(001)
X-ray multiple diffraction in the characterization of TiNO and TiO2 thin films grown on Si(001)
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Chiaramonte, T. (Autor:in) / Abramof, E. (Autor:in) / Fabreguette, F. (Autor:in) / Sacilotti, M. (Autor:in) / Cardoso, L. P. (Autor:in)
APPLIED SURFACE SCIENCE ; 253 ; 1590-1594
01.01.2006
5 pages
Aufsatz (Zeitschrift)
Englisch
DDC:
621.35
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