Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik
Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik
The Role of Residual Source/Drain Implant Damage Traps on SiC MESFET Drain I-V Characteristics
The Role of Residual Source/Drain Implant Damage Traps on SiC MESFET Drain I-V Characteristics
The Role of Residual Source/Drain Implant Damage Traps on SiC MESFET Drain I-V Characteristics
Adjaye, J. (Autor:in) / Mazzola, M. S. (Autor:in) / Los, A. V. (Autor:in) / Devaty, R. P. / Larkin, D. J. / Saddow, S. E.
Silicon Carbide and Related Materials - 2005 ; 1247-1250
MATERIALS SCIENCE FORUM ; 527/529
01.01.2006
4 pages
Aufsatz (Zeitschrift)
Englisch
DDC:
620.11
© Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.