Investigation of Technology and Analysis of Residual Stress in Large Area Diamond Films: Fid-Bau Portal

Investigation of Technology and Analysis of Residual Stress in Large Area Diamond Films

Chen, R. F. / Zuo, D. W. / Xiang, B. K. / Wang, M.

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Titel:

Investigation of Technology and Analysis of Residual Stress in Large Area Diamond Films

Beteiligte:

Chen, R. F. (Autor:in) / Zuo, D. W. (Autor:in) / Xiang, B. K. (Autor:in) / Wang, M. (Autor:in) / Jiang, C. / Liu, G. / Zhang, D. / Xu, X.

Erschienen in:

Advances in Materials Manufacturing Science and Technology II ; 464-467

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 532/533

Erscheinungsdatum:

01.01.2007

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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