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    Titel:

    Micro- and Nanoscale Deformation Measurement of Surface and Internal Planes via Digital Image Correlation

    Beteiligte:

    Berfield, T. A. (Autor:in) / Patel, J. K. (Autor:in) / Shimmin, R. G. (Autor:in) / Braun, P. V. (Autor:in) / Lambros, J. (Autor:in) / Sottos, N. R. (Autor:in)

    Erschienen in:

    EXPERIMENTAL MECHANICS ; 47 ; 51-62

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2007

    Format / Umfang:

    12 pages

    ISSN:

    0014-4851

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.1

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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