Luminance Characterization of La~3Ga~5SiO~1~4 Thin Films by Sputtering Deposition: Fid-Bau Portal

Luminance Characterization of La~3Ga~5SiO~1~4 Thin Films by Sputtering Deposition

Hu, Y. / Wang, F. W. / Lin, H. L.

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Titel:

Luminance Characterization of La~3Ga~5SiO~1~4 Thin Films by Sputtering Deposition

Beteiligte:

Hu, Y. (Autor:in) / Wang, F. W. (Autor:in) / Lin, H. L. (Autor:in) / Chandra, T. / Tsuzaki, K. / Militzer, M. / Ravindran, C.

Erschienen in:

Supplement to THERMEC 2006, 5th International Conference on PROCESSING & MANUFACTURING OF ADVANCED MATERIALS, July 4-8, 2006, Vancouver, Canada ; 3514-3519

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 539/543

Erscheinungsdatum:

01.01.2007

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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