Chemical characterization by XPS of Cu/Ge ohmic contacts to n-GaAs: Fid-Bau Portal

Chemical characterization by XPS of Cu/Ge ohmic contacts to n-GaAs

Lopez, M. C. / Galiana, B. / Algora, C. / Rey-Stolle, I. / Gabas, M. / Ramos-Barrado, J. R.

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Titel:

Chemical characterization by XPS of Cu/Ge ohmic contacts to n-GaAs

Beteiligte:

Lopez, M. C. (Autor:in) / Galiana, B. (Autor:in) / Algora, C. (Autor:in) / Rey-Stolle, I. (Autor:in) / Gabas, M. (Autor:in) / Ramos-Barrado, J. R. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 253 ; 5062-5066

Erscheinungsdatum:

01.01.2007

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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