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Study of the effect of crack closure in Sonic Infrared Imaging

Lu, J. / Han, X. / Newaz, G. / Favro, L. D. / Thomas, R. L.

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Titel:

Study of the effect of crack closure in Sonic Infrared Imaging

Beteiligte:

Lu, J. (Autor:in) / Han, X. (Autor:in) / Newaz, G. (Autor:in) / Favro, L. D. (Autor:in) / Thomas, R. L. (Autor:in)

Erschienen in:

NONDESTRUCTIVE TESTING AND EVALUATION ; 22 ; 127-135

Erscheinungsdatum:

01.01.2007

Format / Umfang:

9 pages

ISSN:

1058-9759

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.1127

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