Time-Dependent Dielectric Breakdown of Thermal Oxides on 4H-SiC: Fid-Bau Portal

Time-Dependent Dielectric Breakdown of Thermal Oxides on 4H-SiC

Matocha, K. / Beaupre, R.

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Titel:

Time-Dependent Dielectric Breakdown of Thermal Oxides on 4H-SiC

Beteiligte:

Matocha, K. (Autor:in) / Beaupre, R. (Autor:in) / Wright, N. / Johnson, C. M. / Vassilevski, K. / Nikitina, I. / Horsfall, A.

Erschienen in:

Silicon Carbide and Related Materials 2006 ; 675-678

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 556/557

Erscheinungsdatum:

01.01.2007

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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