Trap Assisted Conduction in High K Dielectric Capacitors on 4H-SiC: Fid-Bau Portal

Trap Assisted Conduction in High K Dielectric Capacitors on 4H-SiC

Weng, M. H. / Mahapatra, R. / Horsfall, A. / Wright, N. G. / Coleman, P. G. / Burrows, C. P.

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Titel:

Trap Assisted Conduction in High K Dielectric Capacitors on 4H-SiC

Beteiligte:

Weng, M. H. (Autor:in) / Mahapatra, R. (Autor:in) / Horsfall, A. (Autor:in) / Wright, N. G. (Autor:in) / Coleman, P. G. (Autor:in) / Burrows, C. P. (Autor:in) / Wright, N. / Johnson, C. M. / Vassilevski, K. / Nikitina, I.

Erschienen in:

Silicon Carbide and Related Materials 2006 ; 679-682

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 556/557

Erscheinungsdatum:

01.01.2007

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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