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Optimizing the sensitivity of the small-disc creep test to damage and test conditions

Evans, M. / Wang, D.

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Titel:

Optimizing the sensitivity of the small-disc creep test to damage and test conditions

Beteiligte:

Evans, M. (Autor:in) / Wang, D. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF STRAIN ANALYSIS FOR ENGINEERING DESIGN ; 42 ; 389-414

Erscheinungsdatum:

01.01.2007

Format / Umfang:

26 pages

ISSN:

0309-3247

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 624.176

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