Dielectric properties characterization of La- and Dy-doped BiFeO~3 thin films: Fid-Bau Portal

Dielectric properties characterization of La- and Dy-doped BiFeO~3 thin films

Petrov, P. K. / Palkar, V. R. / Tagantsev, A. K. / Chien, H.-I. / Prashanthi, K. / Axelsson, A.-K. / Bhattacharya, S. / Alford, N. M. N.

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Titel:

Dielectric properties characterization of La- and Dy-doped BiFeO~3 thin films

Beteiligte:

Petrov, P. K. (Autor:in) / Palkar, V. R. (Autor:in) / Tagantsev, A. K. (Autor:in) / Chien, H.-I. (Autor:in) / Prashanthi, K. (Autor:in) / Axelsson, A.-K. (Autor:in) / Bhattacharya, S. (Autor:in) / Alford, N. M. N. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH -PITTSBURGH THEN WARRENDALE- ; 22 ; 2179-2184

Erscheinungsdatum:

01.01.2007

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0884-2914

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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