Thickness dependence on thermal stability of sputtered Ag nanolayer on Ti/Si(100): Fid-Bau Portal

Thickness dependence on thermal stability of sputtered Ag nanolayer on Ti/Si(100)

Akhavan, O. / Moshfegh, A. Z.

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Titel:

Thickness dependence on thermal stability of sputtered Ag nanolayer on Ti/Si(100)

Beteiligte:

Akhavan, O. (Autor:in) / Moshfegh, A. Z. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 254 ; 548-551

Erscheinungsdatum:

01.01.2007

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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