High-resolution X-ray diffraction studies of combinatorial epitaxial Ge (001) thin-films on Ge (001) substrates: Fid-Bau Portal

High-resolution X-ray diffraction studies of combinatorial epitaxial Ge (001) thin-films on Ge (001) substrates

Zhong, Y. / Chu, Y. S. / Collins, B. A. / Tsui, F.

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Titel:

High-resolution X-ray diffraction studies of combinatorial epitaxial Ge (001) thin-films on Ge (001) substrates

Beteiligte:

Zhong, Y. (Autor:in) / Chu, Y. S. (Autor:in) / Collins, B. A. (Autor:in) / Tsui, F. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 254 ; 714-719

Erscheinungsdatum:

01.01.2007

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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