Structural investigation of CoMnGe combinatorial epitaxial thin films using microfocused synchrotron X-ray: Fid-Bau Portal

Structural investigation of CoMnGe combinatorial epitaxial thin films using microfocused synchrotron X-ray

Chu, Y. S. / Tkachuk, A. / Vogt, S. / Ilinski, P. / Walko, D. A. / Mancini, D. C. / Dufresne, E. M. / He, L. / Tsui, F.

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Titel:

Structural investigation of CoMnGe combinatorial epitaxial thin films using microfocused synchrotron X-ray

Beteiligte:

Chu, Y. S. (Autor:in) / Tkachuk, A. (Autor:in) / Vogt, S. (Autor:in) / Ilinski, P. (Autor:in) / Walko, D. A. (Autor:in) / Mancini, D. C. (Autor:in) / Dufresne, E. M. (Autor:in) / He, L. (Autor:in) / Tsui, F. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 223 ; 175-182

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

8 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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