Fast and Non Destructive Technique to Characterize Thin Film Porosity: Example on Cubic Mesoporous TiO2 Thins Films: Fid-Bau Portal

Fast and Non Destructive Technique to Characterize Thin Film Porosity: Example on Cubic Mesoporous TiO2 Thins Films

Moreau, A. / Defranoux, C. / Piel, J.P. / Bourgeois, A. / Martin, M.O.

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Titel:

Fast and Non Destructive Technique to Characterize Thin Film Porosity: Example on Cubic Mesoporous TiO2 Thins Films

Beteiligte:

Moreau, A. (Autor:in) / Defranoux, C. (Autor:in) / Piel, J.P. (Autor:in) / Bourgeois, A. (Autor:in) / Martin, M.O. (Autor:in) / Chang, Y.W. / Kim, N.J. / Lee, C.S.

Erschienen in:

PRICM 6 Part 3 Selected, peer reviewed papers from The Sixth Pacific Rim International Conference on Advanced Materials and Processing, November 5-9, 2007, ICC Jeju, Jeju Island, Korea ; 2183-2188

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 561/565

Erscheinungsdatum:

01.01.2007

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

Bondaz, Alexis / Kitzinger, Laurent / Defranoux, Christophe | SPIE | 2007

Ellipsometry porosimetry: fast and nondestructive technique to characterize porosity of cubic mesoporous TiO~2 thin films [6647-18]

Bondaz, A. / Kitzinger, L. / Defranoux, C. et al. | British Library Conference Proceedings | 2007

Combinatorial approach for ferroelectric thins film using solution-based process [4281-12]

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