Ferroelectric properties of bilayer structured Pb(Zr0.52Ti0.48)O3/SrBi2Ta2O9 (PZT/SBT) thin films on Pt/TiO2/SiO2/Si substrates: Fid-Bau Portal

Ferroelectric properties of bilayer structured Pb(Zr0.52Ti0.48)O3/SrBi2Ta2O9 (PZT/SBT) thin films on Pt/TiO2/SiO2/Si substrates

Zhang, W. Q. / Li, A. D. / Shao, Q. Y. / Xia, Y. D. / Wu, D. / Liu, Z. G. / Ming, N. B.

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Titel:

Ferroelectric properties of bilayer structured Pb(Zr0.52Ti0.48)O3/SrBi2Ta2O9 (PZT/SBT) thin films on Pt/TiO2/SiO2/Si substrates

Beteiligte:

Zhang, W. Q. (Autor:in) / Li, A. D. (Autor:in) / Shao, Q. Y. (Autor:in) / Xia, Y. D. (Autor:in) / Wu, D. (Autor:in) / Liu, Z. G. (Autor:in) / Ming, N. B. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 254 ; 1583-1586

Erscheinungsdatum:

01.01.2008

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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