Stress-Driven Surface Topography Evolution in Nanocrystalline Al Thin Films: Fid-Bau Portal

Stress-Driven Surface Topography Evolution in Nanocrystalline Al Thin Films

Gianola, D. S. / Eberl, C. / Cheng, X. M. / Hemker, K. J.

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Titel:

Stress-Driven Surface Topography Evolution in Nanocrystalline Al Thin Films

Beteiligte:

Gianola, D. S. (Autor:in) / Eberl, C. (Autor:in) / Cheng, X. M. (Autor:in) / Hemker, K. J. (Autor:in)

Erschienen in:

ADVANCED MATERIALS -DEERFIELD BEACH THEN WEINHEIM- ; 20 ; 303-308

Erscheinungsdatum:

01.01.2008

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0935-9648

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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