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    Dokumentinformationen
    Titel:

    Absolute Measurement of Aspheric Surfaces Using White-Light Interferometry

    Beteiligte:

    Chang, S.P. (Autor:in) / Xie, T.B. (Autor:in) / Wang, X.Z. (Autor:in) / Guo, J. (Autor:in) / Jin, G.F. / Lee, W.B. / Cheung, C.F. / To, S.

    Erschienen in:

    Advances in Optics Design and Precision Manufacturing Technologies ; 80-85

    KEY ENGINEERING MATERIALS ; 364/366

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2008

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    1013-9826

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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