Automatic Optical Inspection on TFT-LCD Mura Defects Using Background Image Reconstruction: Fid-Bau Portal

Automatic Optical Inspection on TFT-LCD Mura Defects Using Background Image Reconstruction

Chen, L.C. / Kuo, C.C. / Yen, P.A.

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Titel:

Automatic Optical Inspection on TFT-LCD Mura Defects Using Background Image Reconstruction

Beteiligte:

Chen, L.C. (Autor:in) / Kuo, C.C. (Autor:in) / Yen, P.A. (Autor:in) / Jin, G.F. / Lee, W.B. / Cheung, C.F. / To, S.

Erschienen in:

Advances in Optics Design and Precision Manufacturing Technologies ; 400-403

KEY ENGINEERING MATERIALS ; 364/366

Erscheinungsdatum:

01.01.2008

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

1013-9826

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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