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    Titel:

    Disappearance of stress singularity at interface edge due to nanostructured thin film

    Beteiligte:

    Sumigawa, T. (Autor:in) / Hirakata, H. (Autor:in) / Takemura, M. (Autor:in) / Matsumoto, S. (Autor:in) / Suzuki, M. (Autor:in) / Kitamura, T. (Autor:in)

    Erschienen in:

    ENGINEERING FRACTURE MECHANICS ; 75 ; 3073-3083

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2008

    Format / Umfang:

    11 pages

    ISSN:

    0013-7944

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.1 / 126

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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