Electrical Characterization and Microstructures of Tb-Doped Bi~4Ti~3O~1~2 Thin Films: Fid-Bau Portal

Electrical Characterization and Microstructures of Tb-Doped Bi~4Ti~3O~1~2 Thin Films

Sun, Y.H. / Chen, M. / An, W.K. / Cai, A.H. / Liu, J. / Su, K.L.

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Titel:

Electrical Characterization and Microstructures of Tb-Doped Bi~4Ti~3O~1~2 Thin Films

Beteiligte:

Sun, Y.H. (Autor:in) / Chen, M. (Autor:in) / An, W.K. (Autor:in) / Cai, A.H. (Autor:in) / Liu, J. (Autor:in) / Su, K.L. (Autor:in) / Pan, W. / Gong, J.

Erschienen in:

High-Performance Ceramics V Part 1 ; 82-84

KEY ENGINEERING MATERIALS ; 368-372

Erscheinungsdatum:

01.01.2008

Format / Umfang:

3 pages

ISSN:

1013-9826

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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